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Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies
Celso Cruz
,
Jaime Taha-Tijerina
, Pedro Gonzalez-Garcia
, Saul Santillán
, Rodrigo Romero
Departamento de Ingeniería Mecánica y Eléctrica
Producción científica
Información general
Huella
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies'. En conjunto forman una huella única.
Clasificar por
Ponderación
Alfabéticamente
Material Science
Scanning Electron Microscopy
100%
Carbon Fiber
100%
Adhesive Bonding
100%
Atomic Force Microscopy
100%
Surface (Surface Science)
100%
Aluminum
50%
Surface Morphology
50%
Surface Treatment
50%
Composite Material
50%
Crack Growth
50%
Wettability
50%
Surface Finishing
50%
Engineering
Bonding Technology
100%
Atomic Force Microscopy
100%
Fracture Analysis
50%
Inspection Surface
50%
Carbon Fibre Composite
50%
Surface Preparation
50%
Surface Morphology
50%
Crack Growth
50%
Failure Mode
50%