Chapter 66: Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies

Celso Cruz, Pedro Gonzalez-Garcia, Jaime Taha-Tijerina, Saul Santillán, Rodrigo Romero

Producción científicarevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Chapter 66: Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies'. En conjunto forman una huella única.

Biochemistry, Genetics and Molecular Biology