Chapter 66: Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies

Celso Cruz, Pedro Gonzalez-Garcia, Jaime Taha-Tijerina, Saul Santillán, Rodrigo Romero

Resultado de la investigaciónrevisión exhaustiva

Resumen

Celso Cruz, Pedro González García, Saul Santillán Gutierrez, Jaime Taha-Tijerina, Rodrigo Romero Llerenas (2017) “Chapter 66: Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies", in Microscopy Science Book Series "Microscopy and imaging science: practical approaches to applied research and education
Idioma originalEnglish
Título de la publicación alojadaMicroscopy Science Book Series - Microscopy and imaging science: practical approaches to applied research and education
Lugar de publicaciónSpain
EditorialFormatex Research Center
Capítulo66
Páginas464 - 473
Número de páginas10
Edición1
ISBN (versión impresa)978-84-942134-9-6
EstadoPublished - feb 2017

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Chapter 66: Scanning electron microscopy, atomic force microscopy and optical profilometry applied to adhesive bonding technologies'. En conjunto forman una huella única.

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